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CATÁLOGO DE CURSOS: PLAN PARCIAL ESPECÍFICO


Acción Formativa:

MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO PARA EL ANÁLISIS DE MATERIALES

Objetivos:

Conocer la microscopía electrónica de barrido

Conocer algunas de las aplicaciones más importantes de la técnica

Aprender a manejar el MEB y los accesorios que lo componen

Destinatarios:

Personal de Administración y Servicios de apoyo a departamentos

Asistentes:

10

Horas lectivas:

21

Calendario Previsto:

Dos días a la semana a razón de 3 horas diarias

Horario:

Mañanas

Lugar de Celebración:

SAIT

Contenidos:

  • Introducción a la MEB
  • Preparación de muestras
  • Imagen de electrones secundarios
  • Imagen de electrones retrodifundidos
  • Microanálisis de energías dispersivas de rayos X
  • Mapas de composición elemental
  • Prácticas con las técnicas instrumentales

Profesorado:

Francisco J. Carrión Vilches (Profesor Titular de Universidad)

Isidro J. Ibarra Berrocal (SAIT)

Luis Alberto Alcolea Rubio (SAIT)

Metodología:

Pruebas prácticas que se realizarán en grupos de un máximo de 5 personas

Coordinación:

Recursos Humanos